Nouveau Sciences analytiques

J’EXCEL 8 -Les Rayons X dans le monde des sciences analytiques -Invisibles et tellement utiles

Durée 1 jours 7 heures
Sessions
  • 28 janvier 2020
Lieu Ecole CPE Lyon, Villeurbanne

Frais d’inscription
(déjeuner inclus)

Universitaire :160 € HT
Industriel : 300 € HT
Adhérent SECF nous contacter

Public concerné

Personnels des laboratoires d’analyse chargés du contrôle des matières premières, du contrôle des produits finis, des laboratoires ou d’organismes de santé et d’expertises et à toute personne confrontée à l’analyse en général
Sont concernés les domaines : environnement, géologie, médicaments-santé-cosmétique, produits chimiques et pétroliers, produits naturels, produits alimentaires, produits manufacturés, micro-électronique…

Objectifs

Présenter les différents usages des rayons X dans les techniques d’analyse dans des domaines aussi variés que l’analyse compositionnelle et/ou de structure
Investiguer les différents types d’interaction rayons-matières et les effets provoqués par les faisceaux de rayons X au travers de divers matériaux
Illustrer la diversité des informations pouvant être obtenues à partir des interactions observées
Montrer l’importance et la diversité de cette source de rayonnements dans divers domaines

Contenu pédagogique

08h30  Accueil des participants par   Jean-Pierre DAL PONT (Président de la SECF) et  Gérard PIGNAULT (Directeur de CPE Lyon)   

09h00  Histoire des inventions ayant abouti à la spectrométrie de fluorescence   X : de 1650 à nos jours  –  J.-P. QUISEFIT (ADISCA Paris)

09h45  Règlementation des activités nucléaires mettant en jeu des appareils   électriques émettant des rayons X – A.CHABARDES (Sûreté Nucléaire et Radioprotection de l’IN2P3 – CNRS)

10h15  Différentes approches danalyse en FX et les pièges à éviter-   C.-P. LIENEMANN (IFPEN)

10h45  Pause – Visite des stands

11h15  La XRF Portable –  Applications et Performances- F. DUMONT (Physitek-Fondis)

11h45  Microanalyse par FX en microscopie électronique- N. MENGUY (IMPMC – Sorbonne Université)  

12h15  Déjeuner   Café – Visite des stands

13h30  Imagerie multi-échelle 2D/3D par fluorescence X sur la ligne   NANOSCOPIUM du Synchrotron SOLEIL  – K MEDJOUBI (SOLEIL)

14h00  La diffraction des rayons et ses applications – E. JEANNEAU (Centre de diffractométrie Henri Longchambon)

14h30  Les défis liés à la caractérisation par rayons X de faibles quantités de   matière – S. NOWAK (Université de Paris)

15h00  Pause – Visite des stands

15h30  Etudes structurales en conditions atypiques par DRX – B. BAPTISTE (IMPMC – Sorbonne Université)

16h00  Associer tomographie, FX et DRX pour caractériser des matériaux   hétérogènes : exemples dans le domaine des matériaux du patrimoine –   P. MARTINETTO  (NEEL)

 16h30  Clôture du colloque en présence des intervenants de la journée

 17h00 FIN

Coordonnées

CPE Lyon Formation Continue

Campus Saint-Paul – Bâtiment F 10, Place des Archives – 69002 LYON

04.72.32.50.60